Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER Plus

Рентгеновский дифрактометр

Использование источника TXS-HE существенно сокращает время измерения по сравнению с традиционными рентгеновскими трубками и обеспечивает более высокое качество данных, что позволяет получать новые сведения об исследуемых материалах. Передовая конструкция вертикального гониометра ATLAS обеспечивает высокую точность углового позиционирования, что повышает надежность получаемых данных для всех применений. Высокая прочность гониометра дает возможность собрать конфигурацию дифрактометра для решения любых задач рентгеновской дифрактометрии. Использование источника TXS-HE и гониометра ATLAS в сочетании с новым детектором EIGER2 R 500K, обладающим высоким динамическим диапазоном и большой активной площадью, обеспечивает непревзойденные возможности для решения аналитических задач в исследовании материалов. Благодаря сочетанию передовых компонентов дифрактометр D8 DISCOVER Plus задает новые стандарты возможностей и качества в рентгеновской дифрактометрии.

Основные преимущества:

• вертикальный Theta/Theta- или горизонтальный Theta/2Theta-гониометр (максимальный диаметр – до 1080 мм);
• генератор мощностью 0,1–9 кВт;
• фиксированные или моторизованные щели и противорассеивающий ножевой коллиматор;
• автоматический переход от геометрии Брэгга-Брентано к параллельно-лучевой геометрии (зеркало Гебеля);
• твердотельные позиционно-чувствительные 1D детекторы серии LYNXEYE и 2D-детекторы серии EIGER2 R с возможностью работы в режимах 0D, 1D, 2D;
• координатные приставки для анализа текстур и остаточных макронапряжений совместимые с температурными приставками;
• возможность измерения крупногабаритных образцов;
• широкий выбор источников рентгеновского излучения: керамические отпаянные трубки, микрофокусные трубки, источники с вращающимся анодом;
• гарантированная заводская юстировка;
• автоматическое распознавание компонентов дифрактометра;
• смена модулей рентгеновской оптики и платформ для образцов без инструментов и юстировки;
• полнопрофильный анализ методом Ритвельда с помощью программного обеспечения DIFFRAC.TOPAS;
• быстрое переключение между точечным и линейным фокусом рентгеновской трубки;
• источник рентгеновского излучения с вращающимся анодом Turbo X-ray Source мощностью 6 кВт;
• дополнительное плечо гониометра для некомпланарных измерений в геометрии In-Plane (опция);
• микрофокусные источники IμS высокой интенсивности.

Применение приборов:

Структурный и фазовый анализ, остаточные напряжения и текстурный анализ, высокоразрешающая рентгеновская дифракция, рентгеновская рефлектометрия, картирование обратного пространства, малоугловое рассеяние, некомпланарная дифракция, малоугловое рассеяние рентгеновских лучей в скользящей геометрии, анализ материалов электронной техники, исследования при нестандартных условиях (температура, давление, влажность, реакционные среды, электрическое поле), локальный (микро-)анализ, анализ функциональных покрытий, анализ тонких плёнок, наноматериалы, коллоидные жидкости, жидкие кристаллы, аморфные материалы, органические и биологические материалы, волокна, полимеры, наноструктурированные поверхности, мембраны.